Las cámaras de alta temperatura HTK 16N and HTK 2000N son instrumentos bien probados para estudios de difracción de rayos X in-situ hasta 1600 °C y 2300 °C, respectivamente. La muestra se calienta directamente con un filamento térmico. El diseño de HTK 16N y HTK 2000N le permite trabajar a altas temperaturas en diferentes atmósferas. Los instrumentos están hechos de materiales de alta calidad, lo que garantiza una larga vida útil.
Características principales
Desplazamiento minimizado de la muestra durante el calentamiento
- Estabilidad de alta posición del filamento térmico en todo el rango de temperatura
- Etapa linear precisa que compensa la elongación térmica del filamento calentador
- Hendiduras para la alineación integradas para el reposicionamiento de la muestra incluso en altas temperaturas
Temperatura de la muestra precisa
- Diseño optimizado para un mínimo gradiente de temperatura en la muestra
- Dos termopares para controlar y medir la temperatura de la muestra
Diseño inteligente
- Diseño superior y uso de materiales de alta calidad
- Variedad de materiales de filamento: platino, tungsteno, tantalio, grafito, y otros a pedido
- Filamento térmico de grafito único con plato portador de la muestra inerte extraíble
- Fácil manejo y rápido intercambio de muestras
Especificaciones técnicas
| Temperatura de funcionamiento | |
|---|---|
| Filamento térmico de tungsteno al vacío (≤2.10-4 mbar) | De 25 °C a 2300 °C (HTK 2000N) |
| Filamento térmico de platino (al vacío aire, gas inerte) | 25 °C a 1600 °C (HTK 16N / HTK 2000N) |
| Filamento térmico grafito para vacío (≤2.10-4 mbar) | De 25 °C a 1500 °C (HTK 16N) |
| Nitrógeno | 1400 °C (HTK 16N) |
| Helio | 1300 °C (HTK 16N) |
| Medición de temperatura | |
| Para filamentos calentadores Pt | Pt 10% RhPt termopar |
| Para filamentos calentadores W | W 3% Re-W 25% Re termopar |
| Para filamentos C | Pt 10% RhPt termopar |
| Atmósferas | Vacío (10-4 mbar), aire, gas inerte |
| Máx. presión de funcionamiento | 0.5 bar sobre la presión atmosférica |
| Ángulo de incidencia | De 4 a 164° 2Θ |
| Geometría de la medición | Reflexión |
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